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Wafer Epitassiale SiC 4H-N da 4 pollici, diametro 100 mm, spessore 350μm, grado Prime

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Wafer LNOI a pellicola sottile di niobato di litio da 3 / 4 / 6 / 8 pollici con perdita ottica < 0,05 DB / cm

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Wafer di semi di SiC 6 pollici 8 pollici 4H-N Tipo di produzione di qualità di qualità per la crescita di Wafer di SiC

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Strumento di orientamento delle wafer basato su XRD per la determinazione dell'angolo di taglio ad alta precisione

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