logo
PRODOTTI
PRODOTTI
Casa > PRODOTTI > Sic substrato > Wafer Epitassiale SiC di Tipo 4H-N da 2 pollici (50,8 mm) di diametro per sensori ad alta temperatura

Wafer Epitassiale SiC di Tipo 4H-N da 2 pollici (50,8 mm) di diametro per sensori ad alta temperatura

Dettagli del prodotto

Luogo di origine: Cina

Marca: ZMSH

Certificazione: rohs

Numero di modello: 2 pollici di Wafer SiC Epitaxial

Termini di pagamento e spedizione

Quantità di ordine minimo: 10

Prezzo: by case

Imballaggi particolari: Pacchetto in lavanderia a 100 gradi

Tempi di consegna: 5-8weeks

Termini di pagamento: T/T

Capacità di alimentazione: 1000 pezzi al mese

Ottenga il migliore prezzo
Evidenziare:

Wafer sic epitassiale

,

Tipo wafer sic epitassiale di N

,

Wafer Epitassiale SiC per sensori ad alta temperatura

Struttura cristallina:
4H-SiC singolo cristallo
Dimensione:
2 pollici
Diametro della wafer:
500,8 ± 0,5 mm
Tipo di doping:
N-type/P-type
Roverezza della superficie:
Ra≤0,2 nm
Opzioni di rivestimento:
Settore dei veicoli a nuova energia, elettronica di potenza industriale
Struttura cristallina:
4H-SiC singolo cristallo
Dimensione:
2 pollici
Diametro della wafer:
500,8 ± 0,5 mm
Tipo di doping:
N-type/P-type
Roverezza della superficie:
Ra≤0,2 nm
Opzioni di rivestimento:
Settore dei veicoli a nuova energia, elettronica di potenza industriale
Wafer Epitassiale SiC di Tipo 4H-N da 2 pollici (50,8 mm) di diametro per sensori ad alta temperatura

 

2 pollici di Wafer epitaxial SiC 4H panoramica

 
 

 

2 pollici di diametro 50,8 mm 4H-N tipo SiC Wafer epitaxial per sensori ad alta temperatura

 
 
 
 

ZMSH è un fornitore leader a livello mondiale di soluzioni per materiali semiconduttori a carburo di silicio, con oltre 10 anni di esperienza in ricerca e sviluppo e produzione di substrati SiC e wafer epitaxiali. Abbiamo stabilito una catena di approvvigionamento verticale completamente integrata, dalla crescita dei cristalli alla lavorazione dei wafer e alla deposizione epitaxial, raggiungendo una completa autonomia dei processi. Il nostro portafoglio di prodotti copre specifiche di dimensioni complete da 2 pollici a 12 pollici, inclusi vari politipi come il tipo 4H/6H-N, il tipo 4H/6H-P e il tipo 3C-N SiC,nonché wafer HPSI (High Purity Semi-Isolating) e wafer standard SEMI per diversi scenari di applicazione. Sfruttando tecnologie avanzate di crescita dei cristalli e sistemi rigorosi di controllo della qualità, forniamo soluzioni di alta qualità per materiali SiC a oltre 200 clienti globali,con prodotti ampiamente applicati in settori strategici emergenti, compresa la nuova energia, comunicazioni 5G e trasporti ferroviari.

 

 


 

Parametri chiave di 2 pollici Wafer epitaxial SiC 4H

 

 

Parametro Specifica tecnica
Struttura cristallina 4H-SiC singolo cristallo
Diametro della wafer 500,8 ± 0,5 mm
Orientazione cristallina (0001) piano, fuori asse 4°±0,5°
Spessore dello strato epitaxiale 10 μm standard (5-50 μm personalizzabili)
Tipo di doping Tipo N (azoto)/Tipo P (alluminio)
Concentrazione di doping 1×10^15~1×10^19 cm^-3 (regolabile)
Roughness superficiale ≤ 0,2 nm Ra
Densità di micropipe < 1/cm^2
Densità di dislocazione ≤ 1 × 10^3 cm^-2
Resistenza 0.01-100 Ω·cm (regolabile per doping)
Uniformità dello spessore ≤ ± 2%
Uniformità del doping ≤ ± 5%
Pagina di guerra ≤ 30 μm
Variazione dello spessore totale ≤ 5 μm
Contaminazione da metallo superficiale ≤ 5 × 10^10 atomi/cm^2
Particelle superficiali ≤ 10 particelle/wafer (> 0,3 μm)

 

(Nota: tutti i parametri possono essere personalizzati in base alle esigenze del cliente, fornendo rapporti di prova completi e certificati di qualità.)

 

 

 


 

Caratteristiche chiave2 pollici di Wafer SiC epitaxial 4H

- Sì.

Wafer Epitassiale SiC di Tipo 4H-N da 2 pollici (50,8 mm) di diametro per sensori ad alta temperatura 0

1Proprietà elettriche eccezionali

 

· Il 4H-SiC presenta un'ampia banda di 3,2 eV e una forza di campo di rottura superiore a 2MV/cm, dieci volte quella dei materiali di silicio.Queste caratteristiche lo rendono particolarmente adatto per la fabbricazione di apparecchiature ad alta tensione, dispositivi elettronici ad alta potenza, riducendo significativamente le perdite di conduzione e migliorando l'efficienza del sistema.

· La velocità di deriva della saturazione elettronica raggiunge i 2 × 10^7 cm/s, conferendogli vantaggi distinti nelle applicazioni ad alta frequenza.

 

 

2. Eccellenti capacità di gestione termica

 

· Conduttività termica fino a 4,9 W/cm·K, tre volte superiore a quella dei materiali in silicio, che affronta efficacemente le sfide di dissipazione del calore nei dispositivi ad alta densità di potenza.

· Il basso coefficiente di espansione termica di 4×10^-6/K mantiene un'eccellente stabilità dimensionale in ambienti di funzionamento ad alta temperatura.

 

 

3Qualità dei materiali superiore

· La tecnologia epitaxiale avanzata a controllo passo raggiunge una densità di dislocazione dello strato epitaxiale inferiore a 1 × 10^3 cm^-2.

· La lucidatura chimica-meccanica di precisione garantisce una rugosità superficiale controllata entro 0,2 nm (Ra), soddisfacendo i più severi requisiti di fabbricazione del dispositivo.

 

 

4. Consistenza del processo eccezionale

· Uniformità dello spessore controllata entro ± 2% e deviazione della concentrazione di doping inferiore al 5%, garantendo una produzione di massa stabile e affidabile.

• sistemi avanzati di monitoraggio online consentono un controllo dei processi in tempo reale e una regolazione precisa.

 

 


 

Applicazioni primarie di2 pollici di Wafer SiC epitaxial 4H

 

 

1Settore dei veicoli a nuova energia

 

· Come materiale di base per gli inverter per veicoli elettrici, migliorando l'efficienza del sistema di oltre il 15% e ampliando significativamente la gamma di guida.

· Applicato nei sistemi di ricarica di bordo per supportare i requisiti di ricarica rapida ad alta potenza.

 

Wafer Epitassiale SiC di Tipo 4H-N da 2 pollici (50,8 mm) di diametro per sensori ad alta temperatura 1

2. Elettronica industriale

 

· Utilizzato nelle reti intelligenti, nel fr industrialeLa Commissione ritiene che la Commissione debba adottare misure adeguate per migliorare la qualità dell'energia.

· Particolarmente adatto per ambienti impegnativi come il trasporto ferroviario e i sistemi energetici marini.

 

 

3. Infrastrutture di comunicazione 5G

 

· Materiale di substrato ideale per gli amplificatori di potenza delle stazioni base 5G, che supportano un'elaborazione del segnale RF ad alta frequenza e di maggiore potenza.

· dimostra prestazioni eccezionali nei sistemi di comunicazione satellitare.

 

 

4Aerospaziale e Difesa

 

· Materiale critico per sistemi radar e attrezzature di guerra elettronica.

· Risponde ai requisiti di affidabilità e stabilità in ambienti estremi.

 

 

5. Produzione di energia rinnovabile

 

· Optimale scelta per gli inverter fotovoltaici per migliorare l'efficienza della produzione di energia.

· Materiale componente chiave per i sistemi di generazione eolica.

 

 


 

Servizio di ZMSH di Wafer epitaxial SiC

 

In qualità di fornitore di soluzioni complete nel campo dei materiali SiC, ZMSH offre soluzioni uniche per i substrati SiC e le wafer epitaxiali dalle dimensioni da 2 pollici a 12 pollici,di tipo 4H/6H-N, tipo 4H/6H-P, tipo 3C-N e wafer HPSI, con opzioni di personalizzazione per l'orientamento del cristallo, la concentrazione di doping e lo spessore dello strato epitaxiale. Con la nostra catena industriale completa autosufficiente, siamo dotati di attrezzature epitaxiali CVD leader a livello internazionale e linee di lavorazione di precisione,fornire una gamma completa di servizi dalla crescita dei cristalli, dischi di wafer, lucidatura a doppio lato per scrittura laser, completato da test e certificazione professionali tra cui XRD, AFM e misurazioni Hall. Con una capacità di produzione mensile superiore a 5.000 wafer, possiamo rispondere rapidamente alle esigenze dei clienti, dai campioni di ricerca e sviluppo agli ordini di produzione di massa. Il nostro team di supporto tecnico dedicato offre servizi a valore aggiunto tra cui la guida alla selezione del prodotto, lo sviluppo di applicazioni e il supporto post-vendita, impegnati a fornire servizi di alta qualità,soluzioni di materiali in carburo di silicio altamente coerenti per clienti globali.

 

 

Wafer Epitassiale SiC di Tipo 4H-N da 2 pollici (50,8 mm) di diametro per sensori ad alta temperatura 2Wafer Epitassiale SiC di Tipo 4H-N da 2 pollici (50,8 mm) di diametro per sensori ad alta temperatura 3

 

 


 

Domande frequentidi2 pollici di Wafer SiC epitaxial 4H

 

 

1. D: Quali sono i principali vantaggi dei wafer epitaxiali 4H-SiC da 2 pollici?

R: Gli epi-wafer 4H-SiC da 2 pollici offrono una conduttività termica superiore (4,9 W/cm·K), un'elevata tensione di rottura (> 2MV/cm) e un'eccellente stabilità ad alte temperature per l'elettronica di potenza.

 

 

2. D: Per quali applicazioni sono più adatte le onde epitaxiali a 2 pollici di SiC?

R: Sono ideali per inverter elettrici, dispositivi RF 5G e moduli di alimentazione industriali grazie alle loro prestazioni ad alta frequenza ed efficienza energetica.

 

 

 

Tags: #2inch, #Customized, #Diametro 50,8 mm, #4H-N Type, #SiC Epitaxial Wafer, #High-Temperature Sensors, #Silicon Carbide,