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Sapphire Wafer C-Plane a M 1°off 99,999% Al2O3 Dia 2"3"4"6"8" personalizzare l'orientamento

Dettagli del prodotto

Place of Origin: China

Marca: zmsh

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Hardness:
9 Mohs
Material:
99.999% Sapphire Crystal
Density:
3.98 g/cm3
Orientation:
Can be customized
Size:
2"or 3"or 4"or 6"or 8"
Thickness:
Customized
Surface:
SSP or DSP
TTV:
Depend on size
WRAP/BOW:
Depend on size
Hardness:
9 Mohs
Material:
99.999% Sapphire Crystal
Density:
3.98 g/cm3
Orientation:
Can be customized
Size:
2"or 3"or 4"or 6"or 8"
Thickness:
Customized
Surface:
SSP or DSP
TTV:
Depend on size
WRAP/BOW:
Depend on size
Sapphire Wafer C-Plane a M 1°off 99,999% Al2O3 Dia 2"3"4"6"8" personalizzare l'orientamento

 

Sapphire Wafer C-Plane a M 1°Off, 99,999% Al2O₃, Diametro 2"/3"/4"/6"/8", Orientazione personalizzata

 

Questo wafer di zaffiro di altissima purezza presenta un piano C verso l'asse M con un orientamento di 1° con purezza del 99,999% (5N) di Al2O3,progettato per la crescita epitaxiale avanzata e le applicazioni specializzate di semiconduttori. Disponibile in diametri standard da 2 a 8 pollici con orientamenti e spessori personalizzabili, offre una precisione cristallografica eccezionale, una densità di difetto ultra-bassa,e stabilità termica/chimica superiore. L'off-cut di 1° verso l'asse M ottimizza la qualità della pellicola epitassica per i dispositivi a base di GaN, AlN e ZnO, rendendola ideale per LED ad alte prestazioni, diodi laser, elettronica di potenza,e filtri SAW/BAW.

 


 

Caratteristiche chiave della valigetta di zaffiro

 

Precisione di orientamento fuori taglio:

C-piano all'asse M 1° ± 0,1° fuori taglio, riducendo i difetti di aggregazione passo-passo e migliorando l'uniformità dello strato epitaxiale.

Angoli off-cut personalizzati (0,2° ∼5°) disponibili per applicazioni specializzate.

 

Purezza ultra elevata (5N Al2O3):

99Purezza di 0,999% con tracce di impurità (Fe, Ti, Si) < 5 ppm, garantendo perdite elettriche/ottiche minime.

 

Dimensioni e orientamenti personalizzabili:

Diametri: 2", 3", 4", 6", 8"

Spessore: da 100 μm a 1000 μm (tolleranza ± 5 μm).

Orientazioni alternative: piano A (1120), piano R (1102) o tagli misti su richiesta.

 

Qualità superficiale superiore:

Poliestere pronto all'epinefrina: Ra < 0,5 nm (lato anteriore) per deposizione di film sottile senza difetti.

b. "tecnologia" per l'elaborazione, la produzione e la distribuzione di dati, compresi i dati relativi ai sistemi di controllo dei movimenti e ai sistemi di controllo dei movimenti.

 

Proprietà eccezionali del materiale:

Stabilità termica: punto di fusione ~ 2,050°C, adatto ai processi MOCVD/MBE.

Trasparenza ottica: > 85% di trasmissione (UV a infrarossi medi: 250 000 nm).

Robustezza meccanica: 9 Mohs, resistente all'usura chimica/abrasiva.

 

Sapphire Wafer C-Plane a M 1°off 99,999% Al2O3 Dia 2"3"4"6"8" personalizzare l'orientamento 0

 


 

Applicazioni diWafer di zaffiro

 

Optoelettronica:

LED/diodi laser basati su GaN: LED blu/UV, micro-LED e laser che emettono i bordi.

Finestre laser: componenti laser ad alta potenza a CO2 ed excimer.

 

Potenza e elettronica RF:

HEMT (High Electron-Mobility Transistors): amplificatori di potenza 5G/6G e sistemi radar.

Filtri SAW/BAW: l'orientamento M-piano migliora le prestazioni piezoelettriche.

 

Industria e difesa:

Finestre IR e cupole missilistiche: elevata trasparenza in ambienti estremi.

Sensori di zaffiro: coperture resistenti alla corrosione per condizioni difficili.

 

Tecnologie quantistiche e di ricerca:

Substrati per qubit superconduttori (informatica quantistica).

Ottica non lineare: cristalli SPDC per studi sull'entanglement quantistico.

 

Semiconduttori e MEMS:

Wafer SOI (Silicon-on-Insulator) per IC avanzate.

Resonatori MEMS: stabilità ad alta frequenza con tagli M-piano.

 

Sapphire Wafer C-Plane a M 1°off 99,999% Al2O3 Dia 2"3"4"6"8" personalizzare l'orientamento 1

 


 

Specificità

 

Parametro

Valore

Diametro 2", 3", 4", 6", 8" (± 0,1 mm)
Spessore 100 ‰ 1500 μm (± 5 μm)
Orientazione C-piano a M 1° ± 0,1° di distanza
Purezza 990,999% (5N Al2O3)
Roverezza superficiale (Ra) < 0,5 nm (pronto per l'epi)
Densità di dislocazione < 500 cm−2
TTV (variazione totale dello spessore) < 10 μm
Arco/Warp < 15 μm
Trasparenza ottica 250 ‰ 5.000 nm (> 85%)

 


 

Domande e risposte

 

Q1:Perché scegliere un piano C a M 1° fuori corte per l'epitaxia del GaN?
A1:Il taglio fuori asse M migliora la mobilità degli atomi durante la crescita, riducendo i difetti e migliorando l'uniformità nei film GaN per dispositivi ad alta potenza.

 

Q2:Posso richiedere altre direzioni non tagliate (ad es. asse A)?
A2:Sì, sono disponibili orientamenti personalizzati (piano A, piano R o tagli misti) con tolleranza ± 0,1°.

 

Q3: Qual è il vantaggio del DSP per le applicazioni laser?

A3:DSP fornisce una rugosità di < 0,3 nm su entrambi i lati, riducendo le perdite di dispersione per l'ottica laser ad alta potenza.