| Marchio: | ZMSH |
| MOQ: | 50 |
| Tempo di consegna: | 2-4 SETTIMANE |
| Condizioni di pagamento: | T/T |
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1Introduzione completa del prodotto
Il substrato in carburo di silicio (SiC) da 12 pollici (300 mm) rappresenta l'attuale frontiera nella tecnologia dei semiconduttori a banda larga (WBG).Mentre l'industria globale passa verso una maggiore efficienza e una maggiore densità di energia, questa piattaforma cristallina di grande diametro fornisce la base essenziale per la prossima generazione di sistemi di elettronica di potenza e RF.
Principali vantaggi strategici:
Offerte di prodotti:
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Carburo di silicio 4H-N (tipo conduttore)
Il politipo 4H-N è una struttura cristallina esagonale dopata di azoto nota per le sue robuste proprietà fisiche.
Carburo di silicio 4H-SI (tipo semisolatore)
I nostri substrati SI sono caratterizzati da una resistenza eccezionalmente elevata e da difetti cristallini minimi.
Il nostro processo di produzione è verticalmente integrato per garantire un controllo di qualità totale dalla materia prima al wafer finito.
| Articolo | Produzione del tipo N | Manometto di tipo N | Produzione di tipo SI |
|---|---|---|---|
| Politipo | 4H | 4H | 4H |
| Tipo di doping | Acido nitroso (tipo N) | Acido nitroso (tipo N) | Semi isolanti |
| Diametro | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm |
| Spessore (verde/trans) | 600/700 ± 100 μm | 600/700 ± 100 μm | 600/700 ± 100 μm |
| Orientazione della superficie | 4.0° verso <11-20> | 4.0° verso <11-20> | 4.0° verso <11-20> |
| Accuratezza dell'orientamento | ± 0,5° | ± 0,5° | ± 0,5° |
| Piano primario | Intaglio / Rotonda completa | Intaglio / Rotonda completa | Intaglio / Rotonda completa |
| Profondità di tacca | 1.0 1.5 mm | 1.0 1.5 mm | 1.0 1.5 mm |
| Piattazza (TTV) | ≤ 10 μm | N/A | ≤ 10 μm |
| Densità di micropipe (MPD) | ≤ 5 ea/cm2 | N/A | ≤ 5 ea/cm2 |
| Finitura superficiale | Epi-pronto (CMP) | Smalzaggio di precisione | Epi-pronto (CMP) |
| Processing di bordo | Fabbricazione a partire da semi di legno | Nessun Chamfer | Fabbricazione a partire da semi di legno |
| Ispezione delle crepe | Nessuna (3 mm esclusi) | Nessuna (3 mm esclusi) | Nessuna (3 mm esclusi) |
Utilizziamo un protocollo di ispezione in più fasi per garantire prestazioni costanti nella vostra linea di produzione:
R: fornendo una superficie molto più grande, si possono fabbricare significativamente più chip per wafer.rendere i prodotti semiconduttori finali più competitivi sul mercato.
R: L'orientamento di 4° verso il piano <11-20> è ottimizzato per una crescita epitaxiale di alta qualità, contribuendo a prevenire la formazione di politipi indesiderati e riducendo le lussazioni del piano basale (BPD).
R: Sì, offriamo la marcatura laser personalizzata sul lato C (faccia di carbonio) in base agli standard SEMI o alle specifiche esigenze del cliente per garantire la tracciabilità completa del lotto.
R: Sì, il calibro N-type Dummy condivide le stesse proprietà termiche del calibro di produzione, rendendolo perfetto per testare cicli termici, calibrazione del forno e sistemi di movimentazione.