| Marchio: | ZMSH |
| MOQ: | 10 |
| Tempo di consegna: | 2-4 SETTIMANE |
| Condizioni di pagamento: | T/T |
Wafer di silicio carburo monocristallino SiC da 12 pollici 300 mm 4H 6H per dispositivi di potenza e LED
Panoramica del prodotto:
ZMSH fornisce wafer di silicio carburo (SiC) monocristallino di alta qualità da 12 pollici (300 mm), coltivati utilizzando il metodo Physical Vapor Transport (PVT). Il carburo di silicio è un semiconduttore a banda larga con eccellenti proprietà elettriche e termiche, tra cui alta conducibilità termica, alta tensione di rottura, alta mobilità degli elettroni e alta velocità di deriva satura, che lo rende ideale per l'elettronica di potenza avanzata, MOSFET ad alta tensione, diodi Schottky, IGBT e dispositivi optoelettronici basati su GaN.
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I wafer SiC da 12 pollici di ZMSH sono ottimizzati per una bassa densità di dislocazione del piano basale (BPD), consentendo prestazioni e affidabilità superiori del dispositivo. I nostri wafer sono ampiamente utilizzati in applicazioni ad alta potenza, alta temperatura e alta frequenza sia in ambienti industriali che di ricerca.
| Proprietà | 4H-SiC | 6H-SiC |
|---|---|---|
| Struttura cristallina | Esagonale | Esagonale |
| Costante di reticolo | a=3,08 Å, c=10,05 Å | a=3,08 Å, c=15,12 Å |
| Band Gap | 3,23 eV | 3,02 eV |
| Durezza (Mohs) | 9,2 | 9,2 |
| Conducibilità termica (tipo N, 0,02 Ω·cm) | a~4,2 W/cm·K, c~3,7 W/cm·K | a~4,6 W/cm·K, c~3,2 W/cm·K |
| Coefficiente di espansione termica | 4~5×10⁻⁶/K | 4~5×10⁻⁶/K |
| Costante dielettrica | ~9,66 | ~9,66 |
| Resistività | 0,015~0,028 Ω·cm (tipo N) | >1×10⁵ Ω·cm (semi-isolante) |
| Orientamento | <0001>, 4° fuori asse | <0001>, 4° fuori asse |
| Lucidatura | Lucidato su un lato o su entrambi i lati | Lucidato su un lato o su entrambi i lati |
| Rugosità superficiale | Ra ≤ 5Å | Ra ≤ 5Å |
| TTV | ≤15 µm | ≤15 µm |
| Bow/Warp | ≤80 µm | ≤80 µm |
| Spessore | 0,35–1,0 mm (personalizzabile) | 0,35–1,0 mm (personalizzabile) |
| Zona monocristallina | ≥290 mm | ≥290 mm |
| EPD (Etch Pit Density) | ≤1/cm² | ≤1/cm² |
| Chiping | ≤2 mm | ≤2 mm |
1. Elettronica di potenza:
MOSFET SiC, diodi PiN, diodi Schottky (SBD), diodi JBS, IGBT e BJT SiC.
Raddrizzatori ad alta tensione (3kV–12kV) e moduli di alimentazione ad alta efficienza.
Consente sistemi elettronici di potenza più piccoli, leggeri ed efficienti rispetto ai dispositivi basati sul silicio.
2. Dispositivi optoelettronici:
LED e diodi laser basati su GaN.
L'eccellente adattamento del reticolo con gli strati epitassiali GaN garantisce un'elevata efficienza di estrazione della luce e una maggiore durata del dispositivo.
La conducibilità termica superiore (10× zaffiro) consente una migliore dissipazione del calore nei LED ad alta potenza.
3. Ricerca e dispositivi avanzati:
Dispositivi elettronici ad alta frequenza e alta temperatura.
Materiale per studi sperimentali sulla riduzione del BPD, il controllo delle dislocazioni e i dispositivi SiC di nuova generazione.
Bassa densità BPD:
La crescita PVT ottimizzata, il seed bonding e i processi di raffreddamento riducono la densità di dislocazione del piano basale, migliorando l'affidabilità del dispositivo.
I risultati sperimentali mostrano che le densità BPD possono essere ridotte al di sotto di 1000 cm⁻² in wafer di grande diametro.
Prestazioni termiche ed elettriche elevate:
L'elevata conducibilità termica e le proprietà dielettriche consentono un'efficiente diffusione del calore e un funzionamento stabile ad alta tensione.
L'elevata mobilità degli elettroni e il largo bandgap garantiscono una bassa perdita di energia e prestazioni superiori alle alte temperature.
Grandi dimensioni del wafer da 12 pollici:
Supporta moduli di alimentazione e substrati LED di nuova generazione.
Spessore, orientamento e resistività personalizzabili per specifici requisiti del dispositivo.
Superficie e lucidatura di alta qualità:
Opzioni lucidate su un lato o su entrambi i lati con rugosità superficiale ultra-bassa (Ra ≤ 5Å).
Riduce al minimo i difetti e massimizza l'uniformità della crescita epitassiale.
Imballaggio in camera bianca:
Ogni wafer è confezionato singolarmente in un ambiente pulito di grado 100 per prevenire la contaminazione.
ZMSH si impegna a fornire wafer SiC da 12 pollici ad alte prestazioni con densità di dislocazione controllata ed elevata riproducibilità. I nostri wafer sono ideali per l'elettronica di potenza, l'optoelettronica e la ricerca sui semiconduttori di nuova generazione. Supportiamo specifiche personalizzate per soddisfare le esigenze delle vostre applicazioni industriali o di ricerca.
Q1: Qual è la tipica densità di dislocazione del piano basale (BPD) dei wafer SiC da 12 pollici ZMSH?
A1: I nostri wafer 4H-SiC e 6H-SiC da 12 pollici sono coltivati utilizzando processi PVT ottimizzati con velocità di raffreddamento controllate, seed bonding e selezione del crogiolo di grafite. Ciò garantisce che la densità BPD possa essere ridotta al di sotto di 1000 cm⁻², il che migliora significativamente l'affidabilità del dispositivo in applicazioni ad alta potenza e alta tensione.
Q2: È possibile personalizzare lo spessore, l'orientamento o la resistività del wafer?
A2: Sì. ZMSH supporta specifiche del wafer completamente personalizzabili, tra cui spessore (0,35–1,0 mm), orientamento fuori asse (<0001> 4° o altri angoli) e resistività (tipo N 0,015–0,028 Ω·cm o semi-isolante >1×10⁵ Ω·cm). Questa flessibilità consente ai wafer di soddisfare i requisiti specifici di dispositivi di alimentazione, LED o ricerche sperimentali.
Q3: In che modo i wafer SiC da 12 pollici ZMSH avvantaggiano le applicazioni di diodi laser e LED basati su GaN?
A3: I substrati SiC forniscono un eccellente adattamento del reticolo e compatibilità termica con gli strati epitassiali GaN. Rispetto allo zaffiro, il SiC offre una maggiore conducibilità termica, capacità di substrato conduttivo per strutture di dispositivi verticali e nessun strato di diffusione di corrente, con conseguente maggiore efficienza di estrazione della luce, migliore dissipazione del calore e maggiore durata del dispositivo.