logo
Buon prezzo  in linea

Dettagli dei prodotti

Created with Pixso. Casa Created with Pixso. PRODOTTI Created with Pixso.
Sic substrato
Created with Pixso. Wafer in carburo di silicio monocristallino SiC da 12 pollici 300 mm 4H-N 6H-N per dispositivi di potenza e LED

Wafer in carburo di silicio monocristallino SiC da 12 pollici 300 mm 4H-N 6H-N per dispositivi di potenza e LED

Marchio: ZMSH
MOQ: 10
Tempo di consegna: 2-4 SETTIMANE
Condizioni di pagamento: T/T
Informazioni dettagliate
Luogo di origine:
SHANGHAI, CINA
Struttura cristallina:
Esagonale
Ingraticci costante:
a=3,08 Å, c=10,05 Å;a=3,08 Å, c=15,12 Å
Gap di banda:
3,23 eV; 3,02 eV
Durezza (Mohs):
9,2
Coefficiente di espansione termica:
4~5×10⁻⁶/K
Costante dielettrica:
~9.66
Orientamento:
<0001>, 4° fuori asse
Lucidatura:
Lucidato monofacciale o bifacciale
Rugosità superficiale:
Ra ≤ 5Å
Evidenziare:

Wafer SiC da 12 pollici per dispositivi di alimentazione

,

Substrato di carburo di silicio di 300 mm per LED

,

Wafer SiC monocristallino 4H-N 6H-N

Descrizione di prodotto

Wafer di silicio carburo monocristallino SiC da 12 pollici 300 mm 4H 6H per dispositivi di potenza e LED


Panoramica del prodotto:


ZMSH fornisce wafer di silicio carburo (SiC) monocristallino di alta qualità da 12 pollici (300 mm), coltivati ​​utilizzando il metodo Physical Vapor Transport (PVT). Il carburo di silicio è un semiconduttore a banda larga con eccellenti proprietà elettriche e termiche, tra cui alta conducibilità termica, alta tensione di rottura, alta mobilità degli elettroni e alta velocità di deriva satura, che lo rende ideale per l'elettronica di potenza avanzata, MOSFET ad alta tensione, diodi Schottky, IGBT e dispositivi optoelettronici basati su GaN.


Wafer in carburo di silicio monocristallino SiC da 12 pollici 300 mm 4H-N 6H-N per dispositivi di potenza e LED 0Wafer in carburo di silicio monocristallino SiC da 12 pollici 300 mm 4H-N 6H-N per dispositivi di potenza e LED 1


I wafer SiC da 12 pollici di ZMSH sono ottimizzati per una bassa densità di dislocazione del piano basale (BPD), consentendo prestazioni e affidabilità superiori del dispositivo. I nostri wafer sono ampiamente utilizzati in applicazioni ad alta potenza, alta temperatura e alta frequenza sia in ambienti industriali che di ricerca.


Caratteristiche principali


Proprietà 4H-SiC 6H-SiC
Struttura cristallina Esagonale Esagonale
Costante di reticolo a=3,08 Å, c=10,05 Å a=3,08 Å, c=15,12 Å
Band Gap 3,23 eV 3,02 eV
Durezza (Mohs) 9,2 9,2
Conducibilità termica (tipo N, 0,02 Ω·cm) a~4,2 W/cm·K, c~3,7 W/cm·K a~4,6 W/cm·K, c~3,2 W/cm·K
Coefficiente di espansione termica 4~5×10⁻⁶/K 4~5×10⁻⁶/K
Costante dielettrica ~9,66 ~9,66
Resistività 0,015~0,028 Ω·cm (tipo N) >1×10⁵ Ω·cm (semi-isolante)
Orientamento <0001>, 4° fuori asse <0001>, 4° fuori asse
Lucidatura Lucidato su un lato o su entrambi i lati Lucidato su un lato o su entrambi i lati
Rugosità superficiale Ra ≤ 5Å Ra ≤ 5Å
TTV ≤15 µm ≤15 µm
Bow/Warp ≤80 µm ≤80 µm
Spessore 0,35–1,0 mm (personalizzabile) 0,35–1,0 mm (personalizzabile)
Zona monocristallina ≥290 mm ≥290 mm
EPD (Etch Pit Density) ≤1/cm² ≤1/cm²
Chiping ≤2 mm ≤2 mm


Applicazioni


1. Elettronica di potenza:

  • MOSFET SiC, diodi PiN, diodi Schottky (SBD), diodi JBS, IGBT e BJT SiC.

  • Raddrizzatori ad alta tensione (3kV–12kV) e moduli di alimentazione ad alta efficienza.

  • Consente sistemi elettronici di potenza più piccoli, leggeri ed efficienti rispetto ai dispositivi basati sul silicio.


2. Dispositivi optoelettronici:

  • LED e diodi laser basati su GaN.

  • L'eccellente adattamento del reticolo con gli strati epitassiali GaN garantisce un'elevata efficienza di estrazione della luce e una maggiore durata del dispositivo.

  • La conducibilità termica superiore (10× zaffiro) consente una migliore dissipazione del calore nei LED ad alta potenza.


3. Ricerca e dispositivi avanzati:

  • Dispositivi elettronici ad alta frequenza e alta temperatura.

  • Materiale per studi sperimentali sulla riduzione del BPD, il controllo delle dislocazioni e i dispositivi SiC di nuova generazione.


Vantaggi


  1. Bassa densità BPD:

    • La crescita PVT ottimizzata, il seed bonding e i processi di raffreddamento riducono la densità di dislocazione del piano basale, migliorando l'affidabilità del dispositivo.

    • I risultati sperimentali mostrano che le densità BPD possono essere ridotte al di sotto di 1000 cm⁻² in wafer di grande diametro.

  2. Prestazioni termiche ed elettriche elevate:

    • L'elevata conducibilità termica e le proprietà dielettriche consentono un'efficiente diffusione del calore e un funzionamento stabile ad alta tensione.

    • L'elevata mobilità degli elettroni e il largo bandgap garantiscono una bassa perdita di energia e prestazioni superiori alle alte temperature.

  3. Grandi dimensioni del wafer da 12 pollici:

    • Supporta moduli di alimentazione e substrati LED di nuova generazione.

    • Spessore, orientamento e resistività personalizzabili per specifici requisiti del dispositivo.

  4. Superficie e lucidatura di alta qualità:

    • Opzioni lucidate su un lato o su entrambi i lati con rugosità superficiale ultra-bassa (Ra ≤ 5Å).

    • Riduce al minimo i difetti e massimizza l'uniformità della crescita epitassiale.

  5. Imballaggio in camera bianca:

    • Ogni wafer è confezionato singolarmente in un ambiente pulito di grado 100 per prevenire la contaminazione.


Impegno ZMSH


ZMSH si impegna a fornire wafer SiC da 12 pollici ad alte prestazioni con densità di dislocazione controllata ed elevata riproducibilità. I nostri wafer sono ideali per l'elettronica di potenza, l'optoelettronica e la ricerca sui semiconduttori di nuova generazione. Supportiamo specifiche personalizzate per soddisfare le esigenze delle vostre applicazioni industriali o di ricerca.


FAQ


Q1: Qual è la tipica densità di dislocazione del piano basale (BPD) dei wafer SiC da 12 pollici ZMSH?
A1: I nostri wafer 4H-SiC e 6H-SiC da 12 pollici sono coltivati ​​utilizzando processi PVT ottimizzati con velocità di raffreddamento controllate, seed bonding e selezione del crogiolo di grafite. Ciò garantisce che la densità BPD possa essere ridotta al di sotto di 1000 cm⁻², il che migliora significativamente l'affidabilità del dispositivo in applicazioni ad alta potenza e alta tensione.


Q2: È possibile personalizzare lo spessore, l'orientamento o la resistività del wafer?
A2: Sì. ZMSH supporta specifiche del wafer completamente personalizzabili, tra cui spessore (0,35–1,0 mm), orientamento fuori asse (<0001> 4° o altri angoli) e resistività (tipo N 0,015–0,028 Ω·cm o semi-isolante >1×10⁵ Ω·cm). Questa flessibilità consente ai wafer di soddisfare i requisiti specifici di dispositivi di alimentazione, LED o ricerche sperimentali.


Q3: In che modo i wafer SiC da 12 pollici ZMSH avvantaggiano le applicazioni di diodi laser e LED basati su GaN?
A3: I substrati SiC forniscono un eccellente adattamento del reticolo e compatibilità termica con gli strati epitassiali GaN. Rispetto allo zaffiro, il SiC offre una maggiore conducibilità termica, capacità di substrato conduttivo per strutture di dispositivi verticali e nessun strato di diffusione di corrente, con conseguente maggiore efficienza di estrazione della luce, migliore dissipazione del calore e maggiore durata del dispositivo.