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Dettagli dei prodotti

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Sic substrato
Created with Pixso. ​​Wafer HPSI SiC da 2-12 pollici, grado ottico per occhiali AI/AR​​

​​Wafer HPSI SiC da 2-12 pollici, grado ottico per occhiali AI/AR​​

Marchio: ZMSH
Numero di modello: HPSI SIC Wafer
MOQ: 25
prezzo: by case
Tempo di consegna: 2-4 settimane
Condizioni di pagamento: T/t
Informazioni dettagliate
Luogo di origine:
Cina
Certificazione:
rohs
Misurare:
2-12 pollici
Poli-tipo:
4h
Resistività:
≥ 1E10 ω · cm
Orientamento piatto primario:
(10-10) ± 5,0 °
Esclusione dei bordi:
3 mm
Ruvidezza:
Polacco RA ≤ 1 nm / cmp RA ≤ 0,2 nm
Imballaggio:
Cassette a più wafer o contenitori a singola wafer
Applicazioni:
Sistemi ottici AI/AR
Imballaggi particolari:
Pacchetto in sala di pulizia di 100 gradi
Evidenziare:

Wafer SiC da 2 a 12 pollici

,

Sottostrato SiC di qualità ottica

,

Wafer di SiC per occhiali IA

Descrizione di prodotto

Visualizzazione dei wafer HPSI SiC

 

 

Wafer HPSI SiC 2-12 pollici di grado ottico per occhiali AI / AR

 

 

 

I wafer SiC di tipo HPSI (High-Purity Semi-Isolating Silicon Carbide) servono come materiali ottici di base negli occhiali AI e AR. Con il loro alto indice di rifrazione (2.6?? 2.).7 @ 400~800 nm) e caratteristiche di basso assorbimento ottico., affrontano problemi quali gli "effetti arcobaleno" e la trasmissione insufficiente della luce nei materiali tradizionali in vetro o resina per le guide d'onda AR.Gli occhiali AR Orion di Meta® utilizzano lenti a guida d'onda HPSI SiC, che consente di ottenere un campo visivo ultra-ampio (FOV) di 70°/80° con uno spessore di lente monolivello di soli 0,55 mm e un peso di 2,7 g, migliorando significativamente il comfort e l'immersione.

 

 

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Caratteristiche e vantaggi del wafer HPSI SiC

 
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Proprietà del materiale, prestazioni ottiche e valore applicativo


- Sì.1Indice di rifrazione: 2,6 2,7

  • Questo elevato indice di rifrazione consente di sostituire le strutture ottiche a più strati con una lente a uno strato, riducendo la perdita di luce e migliorando la luminosità e la precisione del colore.consente visualizzazioni più pure, elimina gli effetti arcobaleno e supporta l'integrazione senza soluzione di continuità con i Micro LED ad alta risoluzione.

- Sì.

2Conduttività termica: 490 W/m·K

  • Il materiale dissipa rapidamente il calore generato dai Micro LED ad alta potenza, prevenendo la deformazione della lente e prolungando la durata del dispositivo.Questo garantisce prestazioni stabili anche in ambienti ad alta temperatura, come l'uso all'aperto.

- Sì.

3Durezza di Mohs: 9,5

  • Con un'eccezionale resistenza agli graffi, il materiale resiste all'usura quotidiana, riducendo le esigenze di manutenzione e prolungando la durata di vita dell'obiettivo, migliorando l'usabilità a lungo termine.

 

4Semiconduttore a banda larga.

  • La sua compatibilità con i processi CMOS consente la litografia e l'incisione su scala nanometrica per una precisa fabbricazione di griglie ottiche.Ciò facilita la produzione su scala wafer di componenti ottici avanzati come guide d'onda diffrattive e micro-resonatori.

 

 

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Applicazioni chiave di HPSI SiC Wafer

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1. Sistemi ottici AI/AR

  • Lenti a guida d' onda:Il design della griglia a sezione trasversale triangolare consente visualizzazioni a colori a strato singolo, risolvendo la dispersione cromatica nelle tradizionali guide d'onda diffrattive (ad esempio, soluzione Meta Orion).
  • Accoppiatori per micro display:Raggiunge un'efficienza di trasmissione della luce superiore all'80% tra Micro LED e guide d'onda.
  • - Sì.Substrati di rivestimento antiriflesso:Minimizza i riflessi luminosi ambientali, migliorando i rapporti di contrasto AR.

 

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2Applicazioni estese

  • Dispositivi di comunicazione quantistica:Sfrutta le proprietà del centro del colore per l'integrazione della sorgente luminosa quantistica.
  • - Sì.Componenti laser ad alta potenza:Funziona come substrato per i diodi laser nei sistemi di taglio industriale e medici.

 

 


 

Wafer HPSI SiCParametro chiave

 

 

Confronto delle specifiche dei substrati SiC semisolatrici da 4 e 6 pollici
Parametro Grado Substrato da 4 pollici Substrato da 6 pollici
Diametro. Grado Z / Grado D 99.5 mm - 100.0 mm 149.5 mm - 150,0 mm
Poli-tipo. Grado Z / Grado D 4H 4H
Spessore. Grado Z 500 μm ± 15 μm 500 μm ± 15 μm
Grado D 500 μm ± 25 μm 500 μm ± 25 μm
Orientazione dei wafer Grado Z / Grado D Su asse: <0001> ± 0,5° Su asse: <0001> ± 0,5°
Densità di micropipe Grado Z ≤ 1 cm2 ≤ 1 cm2
Grado D ≤ 15 cm2 ≤ 15 cm2
Resistenza. Grado Z ≥ 1E10 Ω·cm ≥ 1E10 Ω·cm
Grado D ≥ 1E5 Ω·cm ≥ 1E5 Ω·cm
Orientazione primaria piatta Grado Z / Grado D (10-10) ± 5,0° (10-10) ± 5,0°
Lunghezza piatta primaria Grado Z / Grado D 32.5 mm ± 2,0 mm Intaglio
Lungozza piana secondaria Grado Z / Grado D 180,0 mm ± 2,0 mm -
Esclusione di bordo Grado Z / Grado D 3 mm 3 mm
LTV / TTV / Bow / Warp Grado Z ≤ 2,5 μm / ≤ 5 μm / ≤ 15 μm / ≤ 30 μm ≤ 2,5 μm / ≤ 6 μm / ≤ 25 μm / ≤ 35 μm
Grado D ≤ 10 μm / ≤ 15 μm / ≤ 25 μm / ≤ 40 μm ≤ 5 μm / ≤ 15 μm / ≤ 40 μm / ≤ 80 μm
La rugosità. Grado Z Polish Ra ≤ 1 nm / CMP Ra ≤ 0,2 nm Polish Ra ≤ 1 nm / CMP Ra ≤ 0,2 nm
Grado D Polish Ra ≤ 1 nm / CMP Ra ≤ 0,2 nm Polish Ra ≤ 1 nm / CMP Ra ≤ 0,5 nm
Fessure di bordo. Grado D Superficie cumulata ≤ 0,1% Lunghezza cumulativa ≤ 20 mm, singola ≤ 2 mm
Aree politipiche Grado D Superficie cumulata ≤ 0,3% Superficie cumulata ≤ 3%
Inclusioni di carbonio visivo Grado Z Superficie cumulata ≤ 0,05% Superficie cumulata ≤ 0,05%
Grado D Superficie cumulata ≤ 0,3% Superficie cumulata ≤ 3%
Graffi sulla superficie del silicio. Grado D 5 consentiti, ciascuno ≤1 mm Lunghezza cumulativa ≤ 1 x diametro
" Edge Chips ". Grado Z Nessuna autorizzata (larghezza e profondità ≥ 0,2 mm) Nessuna autorizzata (larghezza e profondità ≥ 0,2 mm)
Grado D 7 consentiti, ciascuno ≤ 1 mm 7 consentiti, ciascuno ≤ 1 mm
Dislocazione della vite Grado Z - ≤ 500 cm2
Imballaggio Grado Z / Grado D Cassetta a più wafer o contenitore a una sola wafer Cassetta a più wafer o contenitore a una sola wafer

 

 


 

Servizi ZMSH

 

 

ZMSH, in quanto entità integrata di produzione e commercio, fornisce soluzioni end-to-end per i prodotti in SiC:

 

  • Integrazione verticale:I forni di crescita dei cristalli interni producono wafer di tipo 4H-N, 4H-HPSI, 6H-P e 3C-N (2 ′′ 12′′), con parametri personalizzabili (ad esempio, concentrazione di doping, resistenza alla piegatura).

  • - Sì.Processo di precisione:
  1. - Sì.Taglio a livello di wafer:Il taglio laser e la lucidatura meccanica chimica (CMP) raggiungono una rugosità superficiale < 0,3 nm.
  2. - Sì.Forme personalizzate:Produce prismi, wafer quadrati e matrici di guida d'onda per l'integrazione del modulo ottico AR.
  • Contattaci:Disponibilità di campioni e consulenze tecniche. Supporto completo, dalla convalida del progetto alla produzione in serie.

 

 

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Prodotti SiC della ZMSH

 
 

Wafer SiC 4H-Semi

 

 

 

 

Wafer SiC 4H-N

 
 

2. 4 pollici 4H-N Carburo di silicio SiC Substrato Dia 100mm N tipo Prime Grade Dummy Grade Spessore 350um Personalizzato

 
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Altri tipi di campioni di SiC

 

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Wafer HPSI SiC Domande frequenti

 

 

D1: Perché la HPSI SiC Wafer è fondamentale per gli occhiali AR?

A1: L'elevato indice di rifrazione (2.6 ¢ 2.7) e il basso assorbimento ottico di HPSI SiC Wafer ¢ eliminano gli effetti arcobaleno nei display AR, consentendo al contempo le guide d'onda ultra-sottili (ad esempio, Meta Orion ¢ 0.Lenti da 55 mm).

 

D2: In che modo HPSI SiC differisce dal vetro tradizionale nell'ottica AR?

A2: L'HPSI SiC offre un indice di rifrazione 2 volte superiore al vetro (~ 2,0), consentendo una FOV più ampia e guide d'onda a strato singolo, oltre a una conducibilità termica di 490 W/m·K per gestire il calore dei Micro LED.

 

Q3: L'HPSI SiC è compatibile con altri materiali semiconduttori?

R3: Sì, si integra con GaN e silicio in sistemi ibridi, ma la sua stabilità termica e proprietà dielettriche lo rendono superiore per l'ottica AR ad alta potenza.

 

 


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