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Substrato SiC di tipo 4H-N Wafer 10x10mm per elettronica di potenza

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Substrato SiC di tipo 4H-N Wafer 10x10mm per elettronica di potenza

4H-N Type SiC Substrate 10x10mm Wafer for Power Electronics

Grande immagine :  Substrato SiC di tipo 4H-N Wafer 10x10mm per elettronica di potenza

Dettagli:
Place of Origin: CHINA
Marca: ZMSH
Certificazione: rohs
Model Number: SiC Substrate 10×10mm
Termini di pagamento e spedizione:
Minimum Order Quantity: 25
Prezzo: by case
Packaging Details: package in 100-grade cleaning room
Delivery Time: 2-4 weeks
Payment Terms: T/T
Supply Ability: 1000pcs per month
Descrizione di prodotto dettagliata
Type: 4H-SiC Standard Dimensions: 10×10 mm (±0.05mm tolerance)
Thickness Options: 100-500 μm Resistivity: 0.01-0.1 Ω·cm
Thermal Conductivity: 490 W/m·K (typical) ApplicationsDevices: New Energy Vehicle Powertrains, Aerospace Electronics
Evidenziare:

Wafer substrato SiC 4H-N

,

Wafer per elettronica di potenza SiC 10x10mm

,

Substrato SiC per elettronica di potenza

Panoramica del prodotto del substrato SiC 10×10mm

 

 

Substrato SiC di tipo 4H-N 10×10mm Wafer piccolo Forma e dimensioni personalizzabili

 

 

 

Il piccolo wafer SiC 10×10 è un prodotto a semiconduttore ad alte prestazioni sviluppato sulla base del carburo di silicio (SiC), un materiale semiconduttore di terza generazione. Prodotto utilizzando processi di trasporto di vapore fisico (PVT) o deposizione chimica da vapore ad alta temperatura (HTCVD), offre due opzioni di politipo: 4H-SiC o 6H-SiC. Con una tolleranza dimensionale controllata entro ±0,05 mm e una rugosità superficiale Ra < 0,5 nm, il prodotto è disponibile in versioni drogate di tipo N e di tipo P, che coprono un intervallo di resistività di 0,01-100Ω·cm. Ogni wafer è sottoposto a rigorose ispezioni di qualità, tra cui la diffrazione a raggi X (XRD) per il test dell'integrità del reticolo e la microscopia ottica per l'individuazione dei difetti superficiali, garantendo la conformità agli standard di qualità di grado semiconduttore.

 

 

Substrato SiC di tipo 4H-N Wafer 10x10mm per elettronica di potenza 0

 

 


 

Specifiche tecniche del substrato SiC 10×10mm

 

 

Categoria di parametri

 

Dettagli delle specifiche

 

Tipo di materiale

 

4H-SiC (drogato di tipo N)

 

Dimensioni standard

 

10×10 mm (tolleranza ±0,05 mm)

 

Opzioni di spessore

 

100-500 μm

 

Caratteristiche della superficie

 

Ra < 0,5 nm (lucidato)
Superficie pronta per l'epitassia

 

Proprietà elettriche

 

Resistività: 0,01-0,1 Ω·cm
Concentrazione dei portatori: 1×10¹⁸-5×10¹⁹ cm⁻³

 

Orientamento cristallino

 

(0001) ±0,5° (standard)

 

Conducibilità termica

 

490 W/m·K (tipico)

 

Densità dei difetti

 

Densità dei micropipe: <1 cm⁻²
Densità delle dislocazioni: <10⁴ cm⁻²

 

Opzioni di personalizzazione

 

- Forme non standard (rotonde, rettangolari, ecc.)
- Profili di drogaggio speciali
- Metallizzazione del lato posteriore

 

 


 

Caratteristiche tecniche principali del substrato SiC 10×10mm

 

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  • Gestione termica eccezionale: Conducibilità termica del substrato SiC 10×10mm fino a 490 W/m·K, tre volte superiore a quella del silicio, riducendo significativamente la temperatura di esercizio del dispositivo e migliorando l'affidabilità del sistema.

 

  • Proprietà elettriche superiori: Resistenza alla rottura del substrato SiC 10×10mm di 2-4 MV/cm, dieci volte superiore a quella del silicio, che supporta un funzionamento a tensione più elevata; la velocità di deriva di saturazione degli elettroni raggiunge 2×10^7 cm/s, rendendolo ideale per applicazioni ad alta frequenza.

 

  • Adattabilità ambientale estrema: Il substrato SiC 10×10mm mantiene prestazioni stabili a temperature fino a 600°C, con un basso coefficiente di espansione termica di 4,0×10^-6/K, garantendo la stabilità dimensionale in condizioni di alta temperatura.

 

  • Prestazioni meccaniche eccezionali: Durezza Vickers di 28-32 GPa, resistenza alla flessione superiore a 400 MPa ed eccezionale resistenza all'usura, il substrato SiC 10×10mm offre una durata utile da 5 a 10 volte superiore rispetto ai materiali convenzionali.

 

  • Servizi di personalizzazione: Soluzioni su misura per il substrato SiC 10×10mm disponibili per l'orientamento cristallino (ad esempio, 0001, 11-20), lo spessore (100-500μm) e la concentrazione di drogaggio (10^15-10^19 cm^-3) in base alle esigenze del cliente.

 

 


 

Principali aree di applicazione del substrato SiC 10×10mm

 

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1. Sistemi di propulsione per veicoli a nuova energia: Il substrato SiC 10×10mm viene utilizzato nei MOSFET e nei diodi SiC di grado automobilistico, migliorando l'efficienza dell'inverter del 3-5% e prolungando l'autonomia di guida dei veicoli elettrici.

 

 

2. Infrastruttura di comunicazione 5G: Il substrato SiC 10×10mm funge da substrato per gli amplificatori di potenza RF (RF PA), supportando le applicazioni a banda millimetrica (24-39 GHz) e riducendo il consumo energetico delle stazioni base di oltre il 20%.

 

 

3. Apparecchiature per smart grid: Il substrato SiC 10×10mm viene applicato nei sistemi a corrente continua ad alta tensione (HVDC) per trasformatori e interruttori a stato solido, migliorando l'efficienza della trasmissione di potenza.

 

 

4. Automazione industriale: Il substrato SiC 10×10mm consente azionamenti per motori industriali ad alta potenza con frequenze di commutazione superiori a 100 kHz, riducendo le dimensioni dei dispositivi del 50%.

 

 

5. Elettronica aerospaziale: Il substrato SiC 10×10mm soddisfa i requisiti di affidabilità per i sistemi di alimentazione satellitare e i sistemi di controllo dei motori aeronautici in ambienti estremi.

 

 

6. Dispositivi optoelettronici di fascia alta: Il substrato SiC 10×10mm è un materiale di substrato ideale per LED UV, diodi laser e altri componenti optoelettronici.


 


 

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Substrato SiC 10×10mm FAQ

 

 

1. D: Quali sono le principali applicazioni dei wafer SiC da 10×10 mm?
    R: I wafer SiC da 10×10 mm sono utilizzati principalmente per la prototipazione di elettronica di potenza (MOSFET/diodi), dispositivi RF e componenti optoelettronici grazie all'elevata conducibilità termica e alla tolleranza alla tensione.

 

 

2. D: Come si confronta il SiC con il silicio per applicazioni ad alta potenza?
    R: Il SiC offre una tensione di rottura 10 volte superiore e una conducibilità termica 3 volte migliore rispetto al silicio, consentendo dispositivi più piccoli ed efficienti ad alta temperatura/alta frequenza.

 

 

 

Tag: #10×10mm, #Substrato in carburo di silicio, #Diametro 200mm, #Spessore 500μm, #Tipo 4H-N, #Grado MOS, #Grado Prime, #Grande diametro, #Wafer piccolo, #Forma e dimensioni personalizzabili

  

 
 

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