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330um di spessore 4 di H-N Type grado Dia50.8mm 2inch di produzione del substrato sic

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330um di spessore 4 di H-N Type grado Dia50.8mm 2inch di produzione del substrato sic

330um Thickness 4H-N Type SiC Substrate Production Grade Dia50.8mm  2inch
330um Thickness 4H-N Type SiC Substrate Production Grade Dia50.8mm  2inch 330um Thickness 4H-N Type SiC Substrate Production Grade Dia50.8mm  2inch 330um Thickness 4H-N Type SiC Substrate Production Grade Dia50.8mm  2inch 330um Thickness 4H-N Type SiC Substrate Production Grade Dia50.8mm  2inch

Grande immagine :  330um di spessore 4 di H-N Type grado Dia50.8mm 2inch di produzione del substrato sic

Dettagli:
Luogo di origine: La CINA
Marca: SICC
Certificazione: CE
Numero di modello: 4h-n
Termini di pagamento e spedizione:
Quantità di ordine minimo: 3PCS
Prezzo: by size and grade
Imballaggi particolari: singolo contenitore di contenitore del wafer o contenitore di cassetta 25pc
Tempi di consegna: 1-4weeks
Termini di pagamento: T/T, Western Union
Capacità di alimentazione: 1000pc/month
Descrizione di prodotto dettagliata
Materiali: SIC di cristallo Tipo: 4h-n
Purezza: 99,9995% Resistività: 0.015~0.028ohm.cm
Dimensione: 2-8inch 2inch, 3inch, 4inch, 6inch, 8inch Spessore: 330um o su misura
MPD: 《2cm-2 Applicazione: per lo SBD, MOS Device
TTV: 《15um arco: 《25um
filo di ordito: 《45um
Evidenziare:

Dello SBD del dispositivo substrato sic

,

di spessore 330um substrato sic

,

Substrato del carburo di silicio del grado di produzione

di 2inch dia50.8mm 330μm di spessore 4 di H-N Type grado di produzione del substrato sic

wafer 6H o 4H del carburo di silicio 2inch N tipo o cheisola sic i substrati

4 H-N Type/semi che isolano sic i wafer del carburo di silicio dei substrati 2inch 3inch 6inch

che cosa è sic subatrate

Sic un substrato si riferisce ad un wafer fatto del carburo di silicio (sic), che è un ampio-bandgap materiale a semiconduttore che ha proprietà elettriche e termiche eccellenti. Sic i substrati sono comunemente usati come piattaforma per la crescita degli strati epitassiali di sic o di altri materiali, che possono essere usati per fabbricare i vari dispositivi elettronici ed optoelettronici, quali i transistor ad alta potenza, i diodi Schottky, i rivelatori fotoelettrici UV ed il LED.

Sic i substrati sono preferiti sopra altri materiali a semiconduttore, quale silicio, per le applicazioni ad alta potenza ed ad alta temperatura di elettronica dovuto le loro proprietà superiori, compreso più alta tensione di ripartizione, il più alta conducibilità termica e il più alta temperatura di funzionamento massima. Sic i dispositivi possono funzionare alle temperature molto più alte che ai i dispositivi basati a silicio, rendendoli adatti ad uso negli ambienti estremi, quali nelle applicazioni automobilistiche, aerospaziali e di energia.

Applicazioni

Deposito del nitruro di III-V

Dispositivi optoelettronici

Dispositivi ad alta potenza

Dispositivi ad alta temperatura

Dispositivi di potere ad alta frequenza

Specificazione

Grado Grado di produzione Grado di ricerca Grado fittizio
Diametro 50,8 millimetro +/- 0,38 millimetri
Spessore

330 um +/- 25 N tipi um

Semi-isolando 250 um +/- 25 um

Orientamento del wafer

Sull'asse: <0001> +/- 0,5 gradi per 6H-N /4H-N /4H-SI /6H-SI

Fuori dall'asse: 4,0 gradi verso <11-20> +/--0,5 grado per 4H-N /4H-SI

Densità di Micropipe (MPD) 5 cm-2 15 cm-2 30 cm-2

Resistività elettrica

(Ohm-cm)

4H-N 0.015~0.028
6H-N 0.02~0.1
4/6H-SI >1E5 (90%) >1E5
Verniciatura della concentrazione

N tipo: ~ 1E18/cm3

Si tipo (V-verniciato): ~ 5E18/cm3

Piano primario {10-10} +/- 5,0 gradi
Lunghezza piana primaria 15,9 millimetro +/- 1,7 millimetri
Lunghezza piana secondaria 8,0 millimetro +/- 1,7 millimetri
Orientamento piano secondario Silicio rivolto verso l'alto: 90 gradi CW dal piano principale +/- 5,0 gradi
Esclusione del bordo 1 millimetro
TTV/arco/filo di ordito 15 um/25um/25um
Rugosità di superficie Ra polacco ottico 1 nanometro sul fronte di C
Ra del CMP 0,5 nanometri sul fronte di si
Crepe ispezionate da luce ad alta intensità Nessuno Nessuno 1 conceduto, 1 millimetro
Piatti della sfortuna ispezionati da light* ad alta intensità Area cumulativa 1% Area cumulativa 1% Area cumulativa 3%
Aree di Polytype ispezionate da light* ad alta intensità Nessuno Area cumulativa 2% Area cumulativa 5%
Graffi ispezionati da luce ad alta intensità **

3 graffi al diametro 1wafer

lunghezza cumulativa

5 graffi - 1 diametro del wafer

lunghezza cumulativa

8 graffi - 1 diametro del wafer

lunghezza cumulativa

Scheggia del bordo Nessuno 3 conceduti, 0,5 millimetri ciascuno 5 conceduti, 1 millimetro ciascuno
Contaminazione di superficie come ispezionata da luce ad alta intensità Nessuno

330um di spessore 4 di H-N Type grado Dia50.8mm 2inch di produzione del substrato sic 0330um di spessore 4 di H-N Type grado Dia50.8mm 2inch di produzione del substrato sic 1

Catena industriale

La catena sic industriale del carburo di silicio è divisa nella preparazione materiale del substrato, nella crescita di strato epitassiale, nella fabbricazione del dispositivo e nelle applicazioni a valle. I monocristalli del carburo di silicio sono preparati solitamente dalla trasmissione fisica del vapore (metodo di PVT) e poi gli strati epitassiali sono generati tramite applicazione a spruzzo chimica (metodo di CVD) sul substrato ed i dispositivi pertinenti infine sono fatti. Nella catena industriale sic dei dispositivi, dovuto la difficoltà della tecnologia di fabbricazione del substrato, il valore della catena industriale pricipalmente è concentrato nel collegamento verso l'alto del substrato.

La società di ZMSH fornisce fornisce i wafer di 150mm e di 100mm sic. Con la sua durezza (sic è il secondo materiale più duro nel mondo) e la stabilità nell'ambito del calore e della corrente ad alta tensione, questo materiale sta essendo ampiamente usato in parecchie industrie.

Prezzo

La società di ZMSH offre il migliore prezzo sul mercato per i wafer di alta qualità sic ed i substrati sic di cristallo fino a sei (6) diametro di pollice. Le nostre garanzie di corrispondenza di politica di prezzi voi il migliore prezzo per i prodotti sic di cristallo con le specifiche comparabili. CONTATTO Stati Uniti oggi per ottenere la vostra citazione.

Personalizzazione

I prodotti sic di cristallo su misura possono essere fatti per rispondere ai requisiti particolari ed alle specifiche del cliente.

i Epi-wafer possono anche essere su ordine su richiesta.

FAQ

Q: Che cosa è il modo del termine di trasporto e di costo e di paga?

: (1) accettiamo in anticipo 50% T/T ed abbiamo lasciato 50% prima della consegna da DHL, da Fedex, dallo SME ecc.

(2) se avete vostro proprio conto preciso, è grande. Se non, potremmo aiutarvi a spedirli.

Il trasporto è conforme allo stabilimento reale.

Q: Che cosa è il vostro MOQ?

: (1) per l'inventario, il MOQ è 3pcs.

(2) per i prodotti su misura, il MOQ è 10pcs su.

Q: Posso personalizzare i prodotti basati sul mio bisogno?

: Sì, possiamo personalizzare il materiale, le specifiche e la forma, dimensione basata sui vostri bisogni.

Q: Che cosa è il termine di consegna?

: (1) per i prodotti standard

Per l'inventario: la consegna è 5 giorni feriali dopo che ordinate.

Per i prodotti su misura: la consegna è 2 o 3 settimane dopo che ordinate.

(2) per i prodotti a forma di speciale, la consegna è 4 settimane lavorative dopo che ordinate.

Dettagli di contatto
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Persona di contatto: Mr. Wang

Telefono: +8615801942596

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