Dettagli del prodotto
Luogo di origine: Cina
Marca: ZMSH
Numero di modello: Substrato SiC
Termini di pagamento e spedizione
Tempi di consegna: 2-4 settimane
Termini di pagamento: T/T
Materiale: |
Monocristallo SiC |
Dia: |
500,8 mm ± 0,38 mm |
Grado: |
Grado P o Grado D |
Spessore: |
350 mm o 500 mm |
orientamento: |
Su asse: <0001> +/- 0,5 gradi |
Resistenza: |
≥1E5 Ω·cm |
Materiale: |
Monocristallo SiC |
Dia: |
500,8 mm ± 0,38 mm |
Grado: |
Grado P o Grado D |
Spessore: |
350 mm o 500 mm |
orientamento: |
Su asse: <0001> +/- 0,5 gradi |
Resistenza: |
≥1E5 Ω·cm |
Wafer SiC, Wafer Carburo di Silicio, Substrato SiC, Substrato Carburo di Silicio, Grado P, Grado D, 2 pollici SiC, 4 pollici SiC, 6 pollici SiC, 8 pollici SiC, 12 pollici SiC, 4H-N, 4H-SEMI, 6H-N, tipo HPSI
Circa 4H-SEMI SiC
- Sì.
Descrizione del 4H-SEMI SiC
Il carburo di silicio (SiC) è un semiconduttore versatile noto per le sue prestazioni in applicazioni ad alta potenza e ad alta frequenza.
Il suo ampio intervallo di banda consente un funzionamento efficiente ad alte tensioni e temperature, rendendolo adatto a elettronica di potenza, dispositivi RF e ambienti difficili.
Il SiC è parte integrante di settori come l'automotive e l'energia a causa della sua affidabilità ed efficienza.
Metodi di produzione avanzati, come la deposizione chimica dei vapori (CVD) e il trasporto fisico dei vapori (PVT), garantiscono componenti di alta qualità e durevoli.
Le proprietà uniche del SiC lo rendono anche ideale per l'optoelettronica a lunghezza d'onda corta, ambienti ad alta temperatura, resistenza alle radiazioni e sistemi elettronici esigenti.
La ZMSH offre una gamma di wafer SiC, compresi i tipi 6H e 4H, indipendentemente dal tipo N, SEMI o HPSI, garantendo un approvvigionamento stabile e di alta qualità,e costi-efficacia attraverso processi di produzione su larga scala.
Caratteristiche del4H-SEMI SiC
4 pollici di diametro 4H Semi-isolatore Sottostrato di carburo di silicio | ||
Proprietà del substrato | Grado di produzione | Grado per finti |
Diametro | 50.8.0 mm +0.0/-0.38 mm | |
Orientazione della superficie | su asse: {0001} ± 0,2° | |
Orientazione primaria piatta | < 11-20> ± 5,0 ̊ | |
Orientazione piatta secondaria | 90.0 ̊ CW da Primary ± 5.0 ̊, silicio verso l'alto | |
Lunghezza piatta primaria | 32.5 mm ± 2,0 mm | |
Lunghezza piatta secondaria | 18.0 mm ± 2,0 mm | |
Connessione a un'altra parte | Campione | |
Densità di micropipe | ≤ 5 micropipes/cm2 | ≤ 50 micropipes/cm2 |
Aree politipiche per luce ad alta intensità | Nessuna autorizzata | Area ≤ 10% |
Resistenza | 0.0150.028Ω·cm | (superficie 75%) |
0.0150.028Ω·cm | ||
Spessore | 350.0 μm ± 25,0 μm o 500.0 μm ± 25,0 μm | |
TTV | ≤ 10 μm | ≤ 15 μm |
BOW (valore assoluto) | ≤ 25 μm | ≤ 30 μm |
Warp. | ≤ 45 μm | |
Finitura superficiale | Polish a doppio lato, Si Face CMP (polizione chimica) | |
Roughness superficiale | CMP Si Face Ra≤0,5 nm | N/A |
Fissure causate da luce ad alta intensità | Nessuna autorizzata | |
Fabbricazione di frammenti/indenti per illuminazione diffusa | Nessuna autorizzata | Qty.2 < 1,0 mm larghezza e profondità |
Superficie totale utilizzabile | ≥ 90% | N/A |
Nota: sono accettabili specifiche personalizzate diverse dai parametri di cui sopra. |
Altri campioni di 4H-SEMI SiC
* Si prega di contattarci se avete richieste personalizzate.
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Domande frequenti
1. Q:Come fa 4H-SiC Semi a garantire la qualità dei suoi wafer?
R: 4H-SiC Semi utilizza tecniche di produzione avanzate, tra cui la deposizione chimica dei vapori (CVD) e il trasporto fisico dei vapori (PVT),e segue rigorosi processi di controllo della qualità per garantire wafer di alta qualità.
2. D: Qual è la differenza principale tra 4H-N SiC e 4H-SEMI SiC
R: La differenza principale tra 4H-N SiC e 4H-SEMI SiC è che 4H-N SiC (dopato con azoto) è carburo di silicio semiconduttore di tipo n, mentre 4H-Semi SiC è carburo di silicio semisolatore,con una tensione di potenza non superiore a 50 kPa,.