Apparecchiature per l'assottigliamento di wafer

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April 15, 2025
Connessione Categoria: Attrezzatura a semiconduttore
Questa apparecchiatura consente di sottilizzare con precisione materiali semiconduttori fragili da 4 a 12 pollici, tra cui il silicio (Si), il carburo di silicio (SiC), l'arsenide di gallio (GaAs) e i substrati di zaffiro,ottenendo una precisione di controllo dello spessore di ±1 μm e una variazione totale dello spessore (TTV) ≤2 μm per soddisfare i severi requisiti della fabbricazione avanzata di imballaggi e dispositivi di potenza.
Riassunto: Scopri il sistema di assottigliamento wafer Precision Thinning Equipment, compatibile con wafer SiC, Si, GaAs e zaffiro da 4-12 pollici. Ottieni un controllo dello spessore di ±1 μm e un TTV ≤2 μm per l'imballaggio avanzato e la fabbricazione di dispositivi di potenza. Ottimizzato per semiconduttori a banda larga come il SiC.
Caratteristiche del prodotto correlate:
  • Precision thinning for 4-12inch brittle semiconductor materials including Si, SiC, GaAs, and sapphire.
  • Raggiunge una precisione di controllo dello spessore di ±1 μm e TTV ≤2 μm.
  • Parametri di rettifica ottimizzati e processi di lucidatura per diverse proprietà dei materiali.
  • Monitoraggio integrato e automatizzato dello spessore in tempo reale per prestazioni stabili.
  • Soluzioni personalizzabili per prodotti irregolari.
  • Smalzaggio a fusione in-feed ad alta precisione con precisione di lavorazione superiore.
  • Funzionamento facile da usare con HMI ergonomica e controllo preciso dell'asse Z.
  • Supporta modalità di funzionamento full-auto e semi-auto con misurazione dello spessore in tempo reale.
FAQ:
  • L'apparecchiatura di sottilizzazione dei wafer supporta la personalizzazione?
    Sì, forniamo soluzioni completamente personalizzate, compresi i cernieri specializzati per wafer irregolari e lo sviluppo di ricette su misura.
  • Qual è la precisione di controllo dello spessore che possono raggiungere le macchine per l'assottigliamento dei wafer?
    I modelli premium raggiungono un'uniformità dello spessore di ± 0,5 μm con TTV≤1 μm (sistema di monitoraggio dello spessore dell'interferometria laser).
  • What materials are compatible with the Wafer Thinning System?
    The system is compatible with 4-12inch brittle semiconductor materials including silicon (Si), silicon carbide (SiC), gallium arsenide (GaAs), and sapphire substrates.