Dettagli del prodotto
Luogo di origine: Cina
Marca: zmsh
Termini di pagamento e spedizione
Material: |
SiC Ceramic |
Size: |
Customized |
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SiC Ceramic |
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Customized |
Effettore termico in ceramica SiC per la manipolazione di wafer
Il Silicon Carbide (SiC) Ceramic End Effector è uno strumento di gestione dei wafer ad alte prestazioni progettato per la produzione di semiconduttori, produzione fotovoltaica e assemblaggio di elettronica avanzata.Utilizzando le eccezionali proprietà del SiC, compresa l'elevata rigidità, bassa espansione termica e resistenza chimica superiore, questo effettivo finale garantisce un trasferimento di wafer ultra- pulito, stabile e preciso in ambienti a vuoto, ad alta temperatura e corrosivi.
Rispetto ai materiali tradizionali (ad esempio alluminio o quarzo), gli effettiori finali in ceramica SiC offrono:
- Contaminazione zero da particelle (critica per la litografia EUV).
- elevata rigidità (modulo Young > 400 GPa), riducendo al minimo il disallineamento dei wafer indotto dalle vibrazioni.
- resistenza alla corrosione agli acidi, ai plasmi e ai gas reattivi (ad esempio, nelle camere CVD/PVD).
- Stabilità termica (intervallo di funzionamento: -200°C a 1.600°C), ideale per processi estremi.
Caratteristiche dell'effettore termico in ceramica SiC per la manipolazione dei wafer
1. Altissima durezza e resistenza all'usura
- una durezza Vickers di 2800 HV, che si avvicina al diamante (3000 HV) e supera sensibilmente il quarzo (820 HV) e l'allumina (1500 HV),consentire un uso a lungo termine senza generare detriti di usura che potrebbero graffiare le superfici dei wafer.
- La struttura dei granelli fini (4-10 μm) garantisce una superficie liscia (Ra < 0,2 μm), soddisfacendo i requisiti di processo ultra-puro per la litografia EUV.
2Struttura meccanica eccezionale.
- La resistenza a flessione di 450 MPa e la resistenza a compressione di 3900 MPa consentono di sostenere wafer di 300 mm (con un peso di ~ 128 g) senza deformazioni di piegatura, evitando disallineamento o rottura dei wafer.
3- Straordinaria stabilità termica.
- sopporta temperature fino a 1600°C in atmosfere ossidanti e 1950°C in gas inerti, superando di gran lunga i limiti degli effettivi metallici (tipicamente < 500°C).
4. Inerzia chimica
- Resiste a tutti gli acidi (escluse le miscele HF/HNO3) e agli alcali, rendendolo ideale per le stazioni di pulizia umida e gli ambienti di processo corrosivi come le camere CVD (SiH4, NH3).
5. Prestazioni prive di contaminazione
- generazione di particelle < 0,1/cm2 (per standard SEMI F57), 100 volte inferiore agli effettivi finali in alluminio.
- densità di 3,14 g/cm3 (rispetto a 2,7 g/cm3 per l'alluminio), che consente una movimentazione robotica ad alta velocità senza compromettere la rigidità.
6. Capacità di personalizzazione
- Geometria: disegni piatti, intagliati o con presa di bordo per wafer da 150 mm a 450 mm.
- Rivestimenti: strati antiriflessi (AR) o idrofobi opzionali per applicazioni speciali.
Specificità
Contenuto di carburo di silicio | - | % | > 99.5 |
Dimensione media del grano | - | micron | 4-10 |
Densità di massa | - | kg/dm^3 | >3.14 |
Apparente porosità | - | Vol % | < 0.5 |
Durezza Vickers | HV0.5 | Kg/mm^2 | 2800 |
Modulo di rottura (3 punti) | 20°C | MPa | 450 |
Resistenza alla compressione | 20°C | MPa | 3900 |
Modulo di elasticità | 20°C | GPa | 420 |
Durezza della frattura | - | MPa/m^1/2 | 3.5 |
Conduttività termica | 20°C | (M*K) | 160 |
Resistenza elettrica | 20°C | Ohm.cm | 10^6-10^8 |
Coefficiente di espansione termica | a) (RT"800°C) |
K^-1*10^-6 | 4.3 |
Temperatura di applicazione massima | Atmosfera ossidata | °C | 1600 |
Temperatura di applicazione massima | Atmosfera inerte | °C | 1950 |
Applicazioni dell'effettore termico in ceramica SiC
1. Fabbricazione di semiconduttori
✔ Litografia UEV
- La manipolazione dei wafer privi di particelle La superficie liscia del SiC (Ra < 0,02 μm) previene i difetti nella litografia ultravioletta estrema (EUV).
- Compatibile con ambienti a vuoto, senza fuoriuscita di gas, garantendo trasferimenti puliti nella fabbricazione di chip di fascia alta.
✔ Processi ad alta temperatura
- Forni a diffusione e ricottura
- Implantazione ionica resistente alle radiazioni, che mantiene l'integrità strutturale sotto il bombardamento ionico.
✔ Gravatura a secco e bagnato
- Resistente agli acidi (HF, HNO3) e al plasma
- Nessuna contaminazione da metalli. Critico per la produzione di FinFET e NAND 3D.
2. elettronica di potenza (elaborazione di wafer a SiC/GaN)
✔ SiC epitaxia
- La corrispondenza di espansione termica (CTE = 4.3×10−6/K) impedisce la deformazione dei wafer nei reattori MOCVD a 1.500°C+.
- non reattivi con i gas di processo (SiH4, NH3, HCl).
✔ Dispositivi con GaN su SiC
- Alta rigidità (420 GPa) riduce al minimo il disallineamento indotto dalle vibrazioni.
- isolante elettrico (106 ‰ 108 Ω·cm) per la manipolazione di dispositivi RF e di potenza.
3. Produzione fotovoltaica e LED
✔ Cellule solari a film sottile
- resistente alla corrosione in ambienti di deposizione CdTe e CIGS.
- La bassa espansione termica garantisce la stabilità nel processo termico rapido (RTP).
✔ Trasferimento mini/micro-LED
- Manipolazione delicata di wafer fragili
- Compatibile con la stanza pulita
4. MEMS & Advanced Packaging
✔ Integrazione di circuiti integrati 3D
- Posizionamento preciso dei chipetti con precisione di allineamento < 1 μm.
- Non magnetici Sicuri per dispositivi MEMS sensibili ai magneti.
✔ Imballaggi a livello di wafer
- Resiste al flusso e ai fumi di saldatura Non si degrada nei forni a reflusso.
5Applicazioni industriali e di ricerca
- Sostituisce l'alluminio nei sistemi automatizzati di movimentazione dei materiali (AMHS) per le fabbriche da 300 mm.
- **Peso leggero (3,21 g/cm3) **, ma rigido, che consente trasferimenti ad alta velocità.
### **✔ Ricerca in Informatica Quantistica**
- **compatibilità criogenica** (~200°C) per la gestione di qubit superconduttori.
- ** Varianti non conduttive** impediscono interferenze con elettronica sensibile.
Domande frequenti
D1: Perché scegliere il SiC piuttosto che gli effectori di fine in alluminio o quarzo?
- Alluminio: genera particelle e si ossida in ambienti difficili.- Quarzo: fragile e instabile termicamente rispetto al SiC.
D2: Gli effettiori di fine SiC possono gestire wafer da 450 mm?
Sì, con disegni personalizzati
Q3:Opzioni di personalizzazione?
- Geometria: disegni piatti, intagliati o che afferrano i bordi.
- Rivestimenti: strati antiriflessivi (AR) o idrofobici.