Dettagli del prodotto
Luogo di origine: Cina
Marca: ZMSH
Certificazione: ROHS
Termini di pagamento e spedizione
Tempi di consegna: 2-4weeks
Payment Terms: T/T
Cavity mode Tolerance: |
Within3% |
Modalità cavità Uniformità: |
Cassazione |
Dopinglevel tolerance: |
Within ±30 % |
Livello di doping Uniformità: |
Cassazione di credito |
PL Wavelength uniformity: |
Std. Dev better than 2nm @inner 140mm |
Thickness uniformity: |
Better than ±3% @inner 140mm |
Mole fraction x tolerance: |
Within ±0.03 |
Mole fraction x Uniformity: |
<= 0.03 |
Cavity mode Tolerance: |
Within3% |
Modalità cavità Uniformità: |
Cassazione |
Dopinglevel tolerance: |
Within ±30 % |
Livello di doping Uniformità: |
Cassazione di credito |
PL Wavelength uniformity: |
Std. Dev better than 2nm @inner 140mm |
Thickness uniformity: |
Better than ±3% @inner 140mm |
Mole fraction x tolerance: |
Within ±0.03 |
Mole fraction x Uniformity: |
<= 0.03 |
N-GaAs substrato VCSEL epiwafer 6 pollici GaAs orientamento 100 111 lunghezza d'onda 940nm per Gigabit Ethernet
Sottostrato di N-GaAs VCSEL epiwafer
IlN-GaAs (arsenide di gallio di tipo n) substrato epiwafer VCSELè un componente critico utilizzato nella fabbricazione di laser a emissione di superficie a cavità verticale (VCSEL).Il wafer è costruito su un substrato GaAs di tipo N, che fornisce un'eccellente conduttività elettrica e una base adatta per la crescita dello strato epitaxiale.
Gli strati epitexiali, composti in genere da vari semiconduttori composti, sono coltivati sul substrato per formare la regione attiva del laser.offrendo un'elevata efficienza e una facile integrazione in arrayIl wafer supporta tipicamente l'emissione a lunghezze d'onda come850 nm o 940 nm, ideale per le applicazioni nella comunicazione in fibra ottica e nel rilevamento 3D.
I substrati di N-GaAs fornisconobassa densità di difetti, essenziali per dispositivi ad alte prestazioni e possono sopportarelavorazione ad alta temperaturaLa sua stabilità meccanica e conducibilità termica la rendono adatta per applicazioni ad alta potenza e ad alta velocità.Centri dati,elettronica di consumo(ad esempio, il riconoscimento facciale negli smartphone) esistemi automobilisticicome il LIDAR, a causa della suacosto-efficacia- escalabiledi produzione.
Struttura dell'epiwafer VCSEL del substrato N-GaAs
scheda di dati dell'epiwafer VCSEL del substrato N-GaAsZMSH VCSEL EPIWAFER.pdf)
Foto dell'epiwafer VCSEL del substrato N-GaAs
Applicazione di epiwafer VCSEL a substrato di N-GaAs
IlEpiwafer VCSEL a substrato N-GaAsè ampiamente utilizzato in varie applicazioni high-tech a causa della sua efficiente emissione di luce verticale, scalabilità e prestazioni.
Comunicazione ottica:
Sensori 3D:
LIDAR (Light Detection and Ranging):
Topi laser e stampanti:
Sensori medici e industriali:
Queste applicazioni evidenziano la versatilità e l'importanza dei VCSEL a substrato N-GaAs nella tecnologia moderna.
Proprietà degli epiwafer VCSEL del substrato N-GaAs
IlEpiwafer VCSEL a substrato N-GaAspossiede diverse importanti proprietà che lo rendono ideale per applicazioni optoelettroniche avanzate, in particolare nelle tecnologie di comunicazione ad alta velocità e di rilevamento.
Alta conduttività elettrica:
Bassa densità di difetti:
Alta conduttività termica:
Tonabilità a lunghezza d'onda:
Emissioni verticali:
Scalabilità:
Stabilità a temperatura:
Queste proprietà rendono l'epiwafer N-GaAs VCSEL ideale per applicazioni che richiedono prestazioni optoelettroniche ad alta velocità, efficienti e affidabili.
Epiwafer VCSEL a substrato di N-GaAs in ZMSH
IlN-GaAs (arsenide di gallio di tipo n) substrato epiwafer VCSELè un componente vitale per la fabbricazione di VCSEL, ampiamente utilizzati incomunicazione ottica,Sensori 3D, eLIDAR. Costruito su N-GaAs, il wafer fornisce eccellenteconduttività elettricae una solida base per la crescita di strati epitaxiali, che consentono l'emissione di luce verticale ad alta efficienza a lunghezze d'onda quali850 nm- e940 nm.
ZMSHFornisce questi wafer di alta qualità e garantisce l'affidabilità del prodotto attraverso metodi di prova avanzati comeMappazione PL,Mapping F-P, eModalità cavitàQuesti test contribuiscono a mantenere una bassa densità di difetti e garantiscono l'uniformità dei wafer, essenziale per le applicazioni ad alte prestazioni.lunghezze d'ondae configurazioni, quali:VCSEL a giunzione singola a 940 nm, per soddisfare le diverse esigenze industriali.
Con il controllo di qualità dettagliato e la scalabilità di ZMSH, questi wafer sono ideali per applicazioni inCentri dati,elettronica di consumo(ad esempio, riconoscimento facciale), esistemi automobilistici, fornendocosto-efficacia- eaffidabilesoluzioni.
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